[22p-C106-1~16] 12.2 評価・基礎物性

[22p-C106-2] フッ素置換自己組織化単分子膜でのAFM周波数シフト測定における
スパイク現象の解析

〇三島 直也¹、山田 剛司¹、大山 浩¹、松本 卓也¹ (1.阪大院理)

キーワード：有機薄膜、自己組織化単分子膜、原子間力顕微鏡

有機エレクトロニクスの分野では、単一種の分子で構成された自己組織化膜(SAM)に関する研究が多く報告され、分子膜中の構造変化や電荷がどのように移動するかが注目されている。過去には走査型トンネル顕微鏡を用いて力学的構造変化による電流値変化を利用した分子スイッチ機構が解明された。本研究では、原子間力顕微鏡(AFM)を対象に、アルキル鎖に電子吸引基をもつ分子を利用し、探針と分子間の相互作用を利用した力学的構造変化によるスイッチ機構に着目した。