[22p-C106-1~16] 12.2 評価・基礎物性

[22p-C106-5] 純粋なBTANC薄膜の作製

〇小野 裕太郎¹、鶴田 諒平¹、佐々木 正洋¹、田所 誠²、中山 泰生²、山田 洋一¹ (1.筑波大数理、2.東理大)

キーワード：N-ヘテロアセン、走査トンネル顕微鏡