[22p-C106-1~16] 12.2 Characterization and Materials Physics

△ [22p-C106-7] STM/STS study of an electron-beam-induced C₆₀ polymer

〇(M2)Tatsuma Izumi¹, Masato Nakaya¹, Jun Onoe¹ (1.Nagoya Univ.)

Keywords:fullerene, STM, organic electronics

C₆₀薄膜へ電子線を照射すると電気抵抗率が大きく減少することが知られており、その導電性制御を利用した有機エレクトロニクスの開発が期待されている。本研究では、電子線照射による導電性の変化について詳しく理解するため、走査トンネル顕微鏡/分光法（STM/STS）を用いて電子線照射C₆₀薄膜の分子スケール観察と電子構造評価を行ったので報告する。