[22p-C106-1~16] 12.2 評価・基礎物性

△ [22p-C106-9] 深紫外光による光電子収量計測を用いた極性有機薄膜のギャップ準位の観測とその問題点

〇(M1)北岡 壮也¹、中澤 遼太郎¹、貝森 亮太¹、栗原 啓輔¹、渡邊 研太¹、石井 久夫^1,2,3 (1.千葉大融合理工、2.千葉大先進、3.千葉大MCRC)

キーワード：半導体、光電子分光、極性

本研究では、代表的な有機EL材料であるAlq₃とTPBiからの光電子放出を詳細に調べ、BEEと思われる電子放出の起源を検討した。また深紫外域の光電子収量を測定する手法である “光電子収量分光(PYS)”や“一定終状態光電子収量法(CFSYS)”などがギャップ内準位のDOSの計測に用いられる際、BEE現象が生じると、始状態のDOSの決定を阻害する要因となると考えられる。そこでPYS, CFSYSも計測して、正しくDOSを計測するための問題点も検討した。