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[22p-C205-4] クラスターイオンビーム照射による有機高分子イオン化における非芳香族有機酸添加の影響評価
キーワード:二次イオン質量分析法、クラスターイオンビーム
本研究は、MALDI-MSで用いられる種々の有機マトリクスをSIMSのサンプルにも添加する手法(ME-SIMS)においてマトリクス分子が試料分子のイオン化に対して果たす役割を明らかにすることを目的としている。本発表では特に、MALDI-MSでは用いられない非芳香族有機酸をマトリクスとして用い、また、イオンビーム照射による損傷断面積を計測することで、添加物が有機高分子イオン化に及ぼす影響を評価した結果について報告する。