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△ [22p-M206-16] Elucidating the operating mechanism of Beyond 5G devices using image information analysis of physical properties
Keywords:Image Information Analysis, PCA, InGaAs-HEMT
本発表では,InGaAs-HEMT をモデル試料として,物性情報と高周波特性との相関を解明することを目指した.具体的には,シミュレーション により計算した電荷密度・電位・ポテンシャルエネルギーの空間分布の幾何学的特徴をFFTにより定量化した画像から成るデータセットから特徴量を抽出した.ここから、逆フーリエ変換を使って,元画像のどの位置で画像的変化が起こったかを明らかにすることで,デバイス内のどの位置における物性変化がデバイス機能に影響を及ぼしているのかを突き止めた.