The 83rd JSAP Autumn Meeting 2022

Presentation information

Oral presentation

3 Optics and Photonics » 3.7 Optical measurement, instrumentation, and sensor (formerly 3.8)

[23p-C302-1~11] 3.7 Optical measurement, instrumentation, and sensor (formerly 3.8)

Fri. Sep 23, 2022 1:30 PM - 4:30 PM C302 (C302)

Toshihiro Somekawa(Inst. for Laser Tech.), Koyama Yuya(Chiba Institute of Technology)

3:45 PM - 4:00 PM

[23p-C302-9] Basic Study for Refractive Index Measurement
by Phase Detection of Optical Microwave

Naoki Aoyama1, Naoaki Tsuchiya2, Tatsutoshi Shioda1 (1.Saitama Univ., 2.Tokyo Tech)

Keywords:Refractive Index

レンズ等の光学材料の屈折率を正確に測定することは,品質と信頼性が高い光学機器を製造するために非常に重要である.しかし,普及している屈折率計測器の光源には放電ランプを用いているため, 計測波長に制限があり, 放電管の寿命が短く維持費が高いというデメリットがある.そこで,広帯域なスペクトルを持つスーパーコンティニウム(SC)光源を用いた屈折率計測システムを提案し,実証を行った.