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[22a-E106-2] 軟X線発光分光を用いた高分子電解質中の水分子の電子状態解析
キーワード:軟X線発光分光、高分子電解質、水素結合
高分子電解質であるナフィオンの高いプロトン伝導性の起源を調べるために、ナフィオン中の水分子の電子状態を軟X線発光分光法によって調べた。本手法は photon-in photon-out の測定手法であることから、X線透過窓を使用することで加湿されたナフィオンの測定が可能となった。測定および解析の結果、ナフィオン中の水分子は18℃で最も水素結合が発達することが示唆され、バルク水とは異なる性質を持つことが分かった。