[22p-E105-1~18] 8.1 プラズマ生成・診断

[22p-E105-9] カーリングプローブによるプラズマ中の電子密度計測時の温度影響

〇(B)紀平 侑樹¹、加藤 翔太¹、加藤 圭¹、小川 大輔¹、中村 圭二¹ (1.中部大工)

キーワード：カーリングプローブ、電子密度計測、温度補正