[22p-E304-1~6] 可視光からX線によるイメージング　ーその汎用性の探求ー

[22p-E304-1] 軟・テンダーX線を用いたポリオレフィン材料の構造解析

〇中西 洋平¹ (1.京大化研)

キーワード：微小部X線蛍光分析、走査型透過X線顕微鏡

軟・テンダーX線を用いた高分子の構造解析について、ポリオレフィン材料を対象に、μ-XRFとSTXMを用いた研究例を紹介する。