[23a-D315-1~11] 3.1 光学基礎・光学新領域

[23a-D315-1] 時間変調された複スリットによる空間的コヒーレンスの高精度測定法

〇白井 智宏¹ (1.産総研)

キーワード：空間的コヒーレンス測定、DMD、ヤングの干渉実験

これまでに筆者らは，空間的コヒーレンスを測定するロバストで利便性の高い原理として，デジタルマイクロミラーデバイス（DMD）上に表示した複スリットを時間的に変調し，同期検出した信号から再構成される干渉縞に基づき可視度を評価する手法を提案した．本研究では，当該原理を拡張することで干渉縞の可視度を増幅できることを示すと共に，この特徴により高精度な空間的コヒーレンス測定の可能性が明らかとなったので報告する．