2022年第69回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[23a-F308-1~10] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2022年3月23日(水) 09:00 〜 11:45 F308 (F308)

末益 崇(筑波大)、原 康祐(山梨大)

09:15 〜 09:30

[23a-F308-2] Mg2Si結晶のキャリア濃度と赤外吸収の関係(II)

〇土田 裕大1、水沼 直樹1、鵜殿 治彦1 (1.茨城大院理工)

キーワード:Mg2Si、FTIR、IR absorption

我々はこれまでにn型Mg2Siに見られる伝導帯間遷移に起因する0.4eVの光吸収ピークから、広範囲に渡って電子濃度を簡易に見積もれることを報告している。今後、光吸収を利用して定量的に電子濃度を見積もるためには、適切な測定条件とスペクトルの解析方法を確立する必要がある。今回、試料の光透過測定面積および厚さを調整すると共に0.4eV付近の吸収のピーク強度とピーク積分強度の関係についても評価を行なった。