[23a-F408-1~9] 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

[23a-F408-2] アモルファス硫化ゲルマニウムへの銀の光拡散ーXAFSおよびXPS測定による局所構造の研究III

〇坂口 佳史¹、馬場 祐治²、Mitkova Maria³ (1.CROSS、2.原子力機構、3.ボイジー州立大)

キーワード：アモルファスカルコゲナイド、銀の光拡散、局所構造変化

我々はアモルファスカルコゲナイドへの銀の光拡散において、銀がど のようにカルコゲナイド膜内に入っていくのかを、時間分解中性子反射率測定を行い、調 べてきた、さらに、408nmに波長中心のあるLED光を照射し、Ag/ Ge₂₀S₈₀ のS K-edge, Ge K-edgeXAFS, XPS測定を行い、銀の光拡散に伴う局所構造の変化を調べてきた。本講演では、局所構造変化の励起波長依存性を調べるため、Ag/ Ge₂₀S₈₀ に367nmに波長中心のあるLED光を照射し、S K-edge, Ge K-edge XAFS、XPS測定を行ったので、これらの結果を報告する。