[24a-E101-1~7] 7.1 X線技術

[24a-E101-4] CeO₂の軟X線出現電位スペクトルの測定

〇柏倉 隆之¹ (1.宇都宮大工)

キーワード：出現電位分光、バルク敏感、化学状態分析

湾曲結晶分光器を用いた軟X線出現電位分光（Soft X-ray Appearance Potential Spectroscopy, SXAPS）装置を製作した。CeO₂粉末について測定したCe M₅吸収端のSXAPスペクトルでは、吸収端の位置にXANESに類似のエッジ構造が見られた。本研究では、SXAPスペクトルの解析に、共鳴逆光電子分光（RIPES）の考え方を取り入れることを目指している。