2022年第69回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

1 応用物理学一般 » 1.5 計測技術・計測標準

[24p-D113-1~17] 1.5 計測技術・計測標準

2022年3月24日(木) 13:00 〜 18:00 D113 (D113)

寺崎 正(産総研)

15:15 〜 15:30

[24p-D113-8] 蛍光一分子像追跡によるナノすきまのスクイーズ流れ分布の定量計測

〇(M2)美木 克貴1、東 直輝1、福澤 健二1、伊藤 伸太郎1、張 賀東1 (1.名大工)

キーワード:ナノすきま、スクイーズ流れ、ナノ粒子画像流速測定法

微細加工技術の発展により,マイクロ流体デバイスやMEMS内のすきまがマイクロからナノスケールへと狭小化している.一方で,ナノすきまに閉じ込められた流体の流れは,マクロ理論によって予測される流れと異なることがあり,ナノすきまの流体の流れ分布の計測法が必要である.本研究では,一分子の直径が数nmである量子ドットの蛍光像追跡によって,ナノすきまのスクイーズ流れ分布の定量計測を実現することを目的とした.