[24p-E202-1~8] 7.1 X-ray technologies

[24p-E202-8] Operando measurement of local charge and discharge reaction distribution of large capacitors

〇Kodai Takano¹, Kosuke Suzuki¹, Kazushi Hoshi¹, Shuichi Ishimoto², Hirotaka Hanawa², Naruki Tsuji³, Hiroshi Sakurai¹ (1.Gunma Univ., 2.Nippon Chemi, 3.JASRI)

Keywords:compton scattered X-ray, capcitors

キャパシタに生じる電極内の充放電反応分布の発生要因を、コンプトン散乱法を用いてオペランドで測定を行った。充放電サイクルの経過により、電極の位置によってコンプトン散乱Ｘ線強度の変化に違いが生じた。これは電極の膨張あるいは収縮が顕著であることを示唆しており、電極内の反応分布に関連すると考えられる。本報告では、さまざまな条件での結果を報告する。