[24p-E203-1~16] 23.1 合同セッションN「インフォマティクス応用」

[24p-E203-5] 空間分布の滑らかさを制約とした放射光Ｘ線回折パターンの特徴抽出

〇沓掛 健太朗¹、松井 孝太²、世木 隆³、竹内 一郎⁴、佐々木 拓生⁵、藤川 誠司⁵、高橋 正光⁵ (1.理研、2.名大、3.コベルコ科研、4.名工大、5.量研)

キーワード：機械学習、情報科学、X線回折

近年、実験・計測機器の性能向上に伴い、計測データの質・量は飛躍的に増加しており、得られた大量データから測定対象に関する情報を効率よく抽出することが求められている。我々は、X線回折パターンの試料表面でのマッピングを対象とし、機械学習によって多数の複雑なパターンから特徴パターンを抽出し、解析に応用することを検討している。今回は、空間分布の滑らかさを制約とした特徴抽出を検討したので報告する。