2022年第69回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

CS コードシェアセッション » 【CS.1】 2.3 加速器質量分析・加速器ビーム分析、7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

[24p-F308-1~11] CS.1 2.3 加速器質量分析・加速器ビーム分析、7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

2022年3月24日(木) 13:30 〜 16:30 F308 (F308)

豊田 紀章(兵庫県立大)、盛谷 浩右(兵庫県立大)

14:15 〜 14:30

[24p-F308-4] 低速Arイオン照射Si基板上のAuナノワイヤ低温成長

〇水谷 仁美1、高廣 克己1 (1.京工繊大)

キーワード:ナノワイヤ、イオンビーム、結晶

我々は、低速Arイオン照射したSi基板に、Auを蒸着すると、照射部/非照射部の境界のみに、Auナノワイヤ(NW)が成長することを見出した。上記のNW作製では、イオン照射とAu蒸着を別々の真空チャンバーで行っていたため、イオン照射Si基板は、一旦大気にさらされていた。本研究では、系中の不純物を低減するために、イオン照射Si基板を大気にさらすことなくAu蒸着を行うことで、より高純度なNWsの作製を試みた。