[24p-F408-1~11] 9.2 Nanoparticles, Nanowires and Nanosheets

[24p-F408-2] Three-dimensional characterization of stacking fault in a Ru nanoparticle

〇(PC)Satoshi Hiroi^1,2, Okkyun Seo^1,2, L. S. R. Kumara^1,2, Chulho Song², Jaemyung Kim², Yanna Chen², Osami Sakata^1,2 (1.JASRI, 2.NIMS)

Keywords:nanoparticle, reverse Monte Carlo modeling, stacking fault

積層欠陥を有するfcc, hcp型Ruナノ粒子の触媒活性の粒径依存性の違いを明らかにするために、SPring-8にてX線全散乱測定を行い、結晶PDF解析およびreverse Monte Carloモデリングを組み合わせた原子配列の3次元可視化を試みた。得られた原子配列には原子面の積層欠陥が少数確認されたほか、同一原子面内に線状の欠陥が導入されていることがわかった。