[24p-P07-1~7] 3.9 テラヘルツ全般

[24p-P07-5] THz-TDSで試料を電磁波集光部に配置した場合の屈折率の補正

〇森川 治¹、服部 あい¹、山本 晃司²、栗原 一嘉²、古屋 岳²、桒島 史欣³、谷 正彦² (1.海保大、2.福井大、3.福井工大)

キーワード：テラヘルツ時間領域分光法、集光、屈折率

テラヘルツ時間領域分光システム(THz-TDS)で試料の屈折率を求めるには､電磁波経路に試料を配置した場合としない場合の信号を比較する。試料が小さい場合は電磁波の集光部に試料を配置する必要がある。この場合､電磁波の平行光束部に試料を配置する場合と比較して､得られる屈折率の値が若干変化する。その補正のため､試料挿入時に検出器を動かして測定･補正する手法が提案されている。今回､より簡便に補正する手法を検討する。