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[24p-P07-5] THz-TDSで試料を電磁波集光部に配置した場合の屈折率の補正
キーワード:テラヘルツ時間領域分光法、集光、屈折率
テラヘルツ時間領域分光システム(THz-TDS)で試料の屈折率を求めるには、電磁波経路に試料を配置した場合としない場合の信号を比較する。試料が小さい場合は電磁波の集光部に試料を配置する必要がある。この場合、電磁波の平行光束部に試料を配置する場合と比較して、得られる屈折率の値が若干変化する。その補正のため、試料挿入時に検出器を動かして測定・補正する手法が提案されている。今回、より簡便に補正する手法を検討する。