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[24p-P10-3] 封止材無しp型結晶Si太陽電池モジュールの電圧誘起劣化
キーワード:封止材無し太陽電池モジュール
封止材無しp型結晶Si太陽電池モジュールの電圧誘起劣化(PID)を調査した。封止材無しモジュールには、高いPID耐性があることを確認した。従来型モジュールはカバーガラスから封止材のエチレン酢酸ビニル共重合樹脂(EVA)を経由して移動したNaイオンのc-Siセルへの侵入による積層欠陥の形成によりPIDが発生する。これに対し、封止材無しモジュールでは、Naの侵入経路であるEVAがないためPIDが抑制できたと考えられる。