10:30 〜 10:45
[25a-E301-6] 軟X線発光分光によるSiC結晶中窒素濃度の評価
キーワード:SiC、窒素、軟X線発光分光
SiC結晶中の窒素濃度の評価にあたり、FE-EPMAに付属の軟X線発光分光器による測定を検討した。2×1019 cm-3以上の窒素濃度の定量評価が可能であることがわかった。発表では、本測定法での利点について整理した結果も述べる。
一般セッション(口頭講演)
CS コードシェアセッション » 【CS.9】 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価、15.6 IV族系化合物(SiC)のコードシェアセッション
2022年3月25日(金) 09:00 〜 11:30 E301 (E301)
俵 武志(富士電機)
10:30 〜 10:45
キーワード:SiC、窒素、軟X線発光分光