2022年第69回応用物理学会春季学術講演会

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CS コードシェアセッション » 【CS.9】 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価、15.6 IV族系化合物(SiC)のコードシェアセッション

[25a-E301-1~9] CS.9 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価、15.6 IV族系化合物(SiC)のコードシェアセッション

2022年3月25日(金) 09:00 〜 11:30 E301 (E301)

俵 武志(富士電機)

10:30 〜 10:45

[25a-E301-6] 軟X線発光分光によるSiC結晶中窒素濃度の評価

〇川西 咲子1 (1.東北大多元研)

キーワード:SiC、窒素、軟X線発光分光

SiC結晶中の窒素濃度の評価にあたり、FE-EPMAに付属の軟X線発光分光器による測定を検討した。2×1019 cm-3以上の窒素濃度の定量評価が可能であることがわかった。発表では、本測定法での利点について整理した結果も述べる。