[25a-P01-1~4] 1.5 計測技術・計測標準

[25a-P01-3] マイクロ波CTにおける光線近似を用いた逆投影法の考案

〇田畑 寛¹、安野 夢叶¹、淺川 誠¹、山口 聡一朗¹ (1.関西大システム理工)

キーワード：マイクロ波、CT、非破壊検査

測定対象物の内部における誘電率分布や導電率分布を再構成する計算機トモグラフィー(CT)法は, 実用時間内で再構成することが難しい。本研究では, X線CT法に広く用いられている逆投影法をマイクロ波CTの再構成に組み込み, 物体外形等の先見情報を与えて計算量を削減することでマイクロ波CT画像を高速に再構成する方法を考案した。