[25a-P06-1~5] 23.1 合同セッションN「インフォマティクス応用」

[25a-P06-1] 光電子顕微鏡を用いた三元系薄膜のハイスループット電子状態相図解析

杉田 涼介¹、〇(B)笠松 笠松 大起¹、小林 海斗¹、仙井 遼平¹、増澤 賢¹、佐藤 駿丞¹、岡田 茉佑子¹、Alexandre Foggiatto¹、大河内 拓雄^2,3、小嗣 真人¹ (1.東理大先進工、2.JASRI、3.理研/Spring-8)

キーワード：計測インフォマティクス