[25p-E302-1~18] 3.8 光計測技術・機器

△ [25p-E302-13] 擬似ランダム変調励起光による発光寿命測定における論理ゲートと光源の電流変調を用いた高速化

〇宇井 颯太¹、瀬戸 啓介¹、小林 孝嘉²、徳永 英司¹ (1.東理大理、2.電通大)

キーワード：蛍光寿命イメージング、蛍光顕微鏡

従来の蛍光寿命測定ではパルス励起した発光の緩和曲線から寿命を測定する。疑似乱数パルス系列で変調した励起光を使用し、発光信号と励起光の畳み込み積分で緩和曲線を得ながら取得光子数を増やせる。本研究では変調を高速化するため、論理ゲートで疑似乱数系列を生成し、ダイオードレーザーを電流変調した。さらに、緩和曲線の系統誤差の原因として、パルス遷移速度が有限であるなどの要因を検討・対策し、正確度の向上を試みる。