[25p-E304-1~15] 12.2 Characterization and Materials Physics

[25p-E304-11] Low Energy Inverse Photoelectron Spectroscopy Measurement of Wide-gap Organic Semiconductors

〇(M1)Masaya Kawashima¹, Minjun kim³, Yong-Jin Pu³, Hiroyuki Yoshida^2,4 (1.Sci. & Eng., Chiba univ., 2.Eng., Chiba Univ., 3.RIKEN CEMS, 4.Chiba Univ.)

Keywords:low energy inverse photoelectron spectroscopy, wide-gap organic semiconductor

電子伝導準位のエネルギーを表す電子親和力は低エネルギー逆光電子分光法LEIPSにより、非破壊かつ高精度に観測可能である。しかし、電子を照射する原理上ワイドギャップ有機半導体のような試料帯電を起こしやすい導電性の低い試料の測定が困難であった。本研究では、ワイドギャップ有機半導体であるUGH-2を例にとり、試料電流とスペクトルの立ち上がりエネルギーが比例していることに着目し、電子親和力の決定法を確立した。