[25p-E304-1~15] 12.2 Characterization and Materials Physics

[25p-E304-15] Structure analysis of liquid crystalline phases using resonant soft X-ray scatterin

〇YOICHI TAKANISHI¹, FUMITO ARAOKA², HIROSHI IWAYAMA³ (1.Kyoto Univ., 2.RIKEN, 3.IMS)

Keywords:Soft Matter, Resonant Soft X-ray Scattering, Structure Analysis

我々は系の対称性に敏感な共鳴X線散乱を用いて、通常のX線散乱では困難なより精密な配向構造解析を行ってきた。この測定手法をより多くのソフトマター材料へ適用できるようにするため、その多くに含まれる炭素原子のK-edge吸収端エネルギーの軟Ｘ線で共鳴散乱を行い始めたので、その成果の一端を報告する。