2022年第69回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[25p-E304-1~15] 12.2 評価・基礎物性

2022年3月25日(金) 13:45 〜 18:00 E304 (E304)

山田 洋一(筑波大)、細貝 拓也(産総研)、深川 弘彦(NHK技研)

17:45 〜 18:00

[25p-E304-15] 共鳴軟X線散乱を用いた液晶相構造の精密構造解析の試み

〇高西 陽一1、荒岡 史人2、岩山 洋士3 (1.京大院理、2.理研、3.分子研)

キーワード:ソフトマター、軟X線共鳴散乱、構造解析

我々は系の対称性に敏感な共鳴X線散乱を用いて、通常のX線散乱では困難なより精密な配向構造解析を行ってきた。この測定手法をより多くのソフトマター材料へ適用できるようにするため、その多くに含まれる炭素原子のK-edge吸収端エネルギーの軟X線で共鳴散乱を行い始めたので、その成果の一端を報告する。