The 69th JSAP Spring Meeting 2022

Presentation information

Oral presentation

13 Semiconductors » 13.5 Semiconductor devices/ Interconnect/ Integration technologies

[25p-E307-1~15] 13.5 Semiconductor devices/ Interconnect/ Integration technologies

Fri. Mar 25, 2022 1:30 PM - 5:30 PM E307 (E307)

Takeshi Momose(Univ. of Tokyo), Osamu Sugiura(千葉工大)

2:30 PM - 2:45 PM

[25p-E307-5] Cu-growth scheme by selective-LPCVD CuI-precursor

〇Gento Toyoda1, Hikari Kikuchi1, Satoshi Yamauchi1, Takashi Fuse2, Yusuke Kubota2 (1.Ibaraki Univ., 2.Tokyo Electron Technology Solutions Limited.)

Keywords:selective-chemical vapor deposition, copper interconnect

これまでに我々は、ヨウ化銅(I)(CuI)を真空中で300oC程度に加熱し、面内安定化構造をとる三量体で昇華させて基板表面に供給することで300oC程度の低温で金属上へのみCuが選択成長し、成長温度とCuI供給速度を制御することでCu膜を形成できることを示してきた。今回は、Cu粒径の制御を目的としてRu(001)上へのCu成長形態の成長温度と成長時間の依存性から本方法に依るCuの成長機構を検討したので報告する。