[25p-F308-1~10] CS.1 2.3 加速器質量分析・加速器ビーム分析、7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

[25p-F308-7] AMS装置小型化のための表面ストリッパーその場評価法の開発

〇神野 智史¹、松原 章浩¹、藤田 奈津子¹、木村 健二¹ (1.原子力機構)

キーワード：AMS、表面ストリッパー

筆者らは表面ストリッパーを利用した炭素-14専用小型AMSを開発している。原理実証に向け、炭素負イオンの表面ストリッパー通過後の電荷分布や散乱角度広がりを評価するとともに、数値計算の結果と比較する。また、イオンの散乱角と二次電子放出量の相関関係を明らかにするために、結晶表面からの二次電子放出量を計測するための検出器を設計した。この装置を用いて、結晶表面の健全性を評価することを計画している。