[26p-E105-1~12] 6.6 Probe Microscopy

[26p-E105-10] Imaging and dissipation energy measurement of KBr/ nanometer-thick water film interface by frequency modulation atomic force microscopy

〇Wataru Hamamoto¹, Toyoko Arai¹ (1.Kanazawa univ.)

Keywords:frequency modulation atomic force microscopy, nanometer-thick water film

KBr結晶は潮解性を持つ結晶であり、潮解湿度以下の湿度環境では、湿度に依存して数nm程度までの極薄水膜（ナノ水膜）が形成されている。我々はFM-AFMを用いて、KBr/ナノ水膜界面の水和層の観察を達成している。本研究では散逸エネルギーに注目し、水和層の構造・結合力について考察を行う。