[26p-E105-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

[26p-E105-12] FM-AFMによるフォースマッピングにおける表面位置特定および物性解析

〇木南 裕陽¹、小林 圭¹、山田 啓文¹ (1.京大工)

キーワード：原子間力顕微鏡、フォースマッピング