The 69th JSAP Spring Meeting 2022

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Oral presentation

3 Optics and Photonics » 3.13 Semiconductor optical devices

[26p-E301-1~12] 3.13 Semiconductor optical devices

Sat. Mar 26, 2022 1:30 PM - 5:00 PM E301 (E301)

Taro Arakawa(Yokohama Natl. Univ.), Tomoyuki Miyamoto(Tokyo Tech)

3:00 PM - 3:15 PM

[26p-E301-6] Comparison of experimental and calculated values for mid-infrared emission shapes related to the number of InAs/GaSb superlattice layers grown by MOVPE method.

〇(M1)Yuto Iwakiri1, Masakazu Arai1, Takeshi Fujisawa2, Koji Maeda1 (1.Miyazaki Univ., 2.Hokkaido Univ.)

Keywords:superlattice, mid-infrared emission, photoluminescence

MOVPE法で作製されたInAs/GaSb超格子の5層と15層の層数を実験値と計算値で比較した。励起キャリア濃度を10²³m⁻³と仮定した。計算値より4.6µmに最低のエネルギー差の発光であるピークと4.0µmにピークが得られた。5層では4.6µmが最大強度であるが15層ではより高エネルギーの4.0µmのピークが強くなった。観測されたPLスペクトルでも励起強度を選ぶと計算値と同様のピーク形状が見られた。