09:15 〜 09:30 △ [16a-A403-2] 高周波反射測定を用いたnMOSシリコン量子ドットの電荷ノイズ評価 〇荒川 雄登1、中越 一真1、松岡 竜太朗1、土屋 龍太2、峰 利之2、久本 大2、水野 弘之2、溝口 来成1、米田 淳1、小寺 哲夫1 (1.東工大、2.日立研開)
09:30 〜 09:45 [16a-A403-3] シリコン量子ドットにおけるデチューニングノイズの特性評価 中越 一真1、〇荒川 雄登1、松岡 竜太郎1、土屋 龍太2、峰 利之2、久本 大2、水野 弘之2、溝口 来成1、米田 淳1、小寺 哲夫1 (1.東工大、2.日立研開)