The 70th JSAP Spring Meeting 2023

Presentation information

Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.3 Oxide electronics

[15a-A409-1~6] 6.3 Oxide electronics

Wed. Mar 15, 2023 10:00 AM - 11:30 AM A409 (Building No. 6)

Hidekazu Tanaka(Osaka Univ.)

11:00 AM - 11:15 AM

[15a-A409-5] He buffer gas effect on luminescence properties of Tb:Y2O3 thin films

〇(D)Shizuka Suzuki1, Takuro Dazai1, Chiharu Tokunaga2, Takahisa Yamamoto2, Ryuji Katoh1, Ryota Takahashi1 (1.Nihon Univ., 2.Nagoya Univ.)

Keywords:thin film, fluorescent material

希土類蛍光体は、レーザー材料やX線センサー、光通信、さらに太陽電池の光変換材料といった様々な分野で広く用いられている。蛍光体の発光特性は、ドープ元素の濃度や母体材料との組み合わせ、結晶欠陥量によって変化する。これまでに我々は、HeとO2混合ガス雰囲気下にて成膜を行うことにより、Eu:Y2O3薄膜の結晶欠陥生成を抑制し、蛍光特性を改善することを報告してきた。本発表では、この手法をTb:Y2O3薄膜に適用し、欠陥量を制御することにより、発光強度を2.8倍に高め、発光寿命を約2倍長くすることに成功した。