[15a-B414-1~9] FS.1 フォーカストセッション「AIエレクトロニクス」

[15a-B414-7] Computation-in-Memory のデバイスエラー補償 2
Shortcut connectionによる層単位のエラー耐性の違いと入出力分布の検証

〇吉清 秦生¹、山田 歩¹、三澤 奈央子¹、松井 千尋¹、竹内 健¹ (1.東大工)

キーワード：メモリ内計算、ニューラルネットワーク、エラー耐性

Shortcut connectionを持つニューラルネットワークモデルの各層の重みに書き込みばらつきなどのエラーが発生した際、推論精度の低下量が大きい層と小さい層が定常的に交互に現れる。本研究では、この一因として、shortcut connectionに起因する層ごとの入出力の範囲の違いに着目し、入出力範囲を補正したモデルとの比較により検証した結果、補正モデルでは定常的なエラー耐性の差が消失し、入出力の範囲と層ごとのエラー耐性の差に関係があることを明らかにした。