[15p-A409-1~11] 6.3 酸化物エレクトロニクス

△ [15p-A409-10] 放射光電子分光によるSrVO₃/LaAlO₃ヘテロ構造の電子状態

〇和田 亜里斗¹、神田 龍彦¹、志賀 大亮¹、増竹 悠紀¹、早坂 亮太朗¹、北村 未歩²、吉松 公平¹、組頭 広志^1,2 (1.東北大多元研、2.KEK物構研)

キーワード：ヘテロ構造、金属・絶縁体転移、角度分解光電子分光

モット絶縁体である2分子層（ML）SrVO₃（SVO）薄膜、極性酸化物LaAlO₃（LAO）薄膜およびSrTiO₃（STO）基板から構成されるSVO/LAO/STO基板ヘテロ構造を作製し、放射光を用いた角度分解光電子分光（ARPES）測定を行った。得られたARPES像から2-ML SVOが金属化したことが明らかとなった。これらの結果は、LAO/STO界面極性不連続を解消するために、SVOからSTO界面へ電子が移動し、SVOが正孔ドープされることで金属化した可能性を示している。