The 70th JSAP Spring Meeting 2023

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Oral presentation

8 Plasma Electronics » 8.1 Plasma production and diagnostics

[15p-B309-1~19] 8.1 Plasma production and diagnostics

Wed. Mar 15, 2023 1:00 PM - 6:45 PM B309 (Building No. 2)

Tsuyohito Ito(Univ. of Tokyo), Manabu Tanaka(Kyushu Univ.)

2:00 PM - 2:15 PM

[15p-B309-4] Influence of Doped Oxide on Cathode Erosion of Nitrogen DC Arc

〇(D)Yuki Takemoto1, Manabu Tanaka1, Takayuki Watanabe1 (1.Kyushu Univ.)

Keywords:thermal plasma

窒素雰囲気ではHeやArといった不活性雰囲気よりも電極消耗の悪化することが確認されている.電極消耗による金属の混入はナノ粒子合成において品質が低下を引き起こす.そこで,窒素雰囲気における直流アークの陰極消耗機構を解明することを目的とした.高速度カメラと特定の波長のみを透過するバンドパスフィルタ(BPF)を組み合わせた計測を行うことで,異なる酸化物を添加した陰極の消耗する様子の可視化や電極の温度計測を行った.