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△ [15p-B401-14] AlInN/GaN DBR のその場反射率スペクトル測定
キーワード:面発光レーザ、多層膜反射鏡
赤色 VCSEL では、その場反射率スペクトル測定による DBR および共振器の膜厚制御が報告されている。一方、GaN 系 VCSEL では上記測定による共振器膜厚制御の報告はあるものの、 AlInN/GaN DBR に関する報告はない。この DBR では成長中断を用いた成長温度変化が存在するため、それを考慮した解析が必要と考えられる。今回、精密な膜厚制御実現に向けて、AlInN/GaN DBR 成長時におけるその場反射率変化の初期検討を行った。