[15p-B508-1~18] 12.2 Characterization and Materials Physics

[15p-B508-15] Surface potential imaging for nitrogen-rich polymeric carbon nitride thin films under light irradiation

〇(M2)Shota Nishio¹, Yusuke Iida¹, Kei Kobayashi², Kei Noda¹ (1.Keio Univ., 2.Kyoto Univ.)

Keywords:Carbon Nitride, thin films, KPFM

金属フリーの有機半導体材料である高分子状窒化炭素C₃N₅­­­­­­­­­は、光触媒や光電変換材料分野への応用が期待されている。本研究ではC₃N₅の薄膜化やその光・電子機能に関する新しい知見を得るために、導電性基板上への成膜を試み、得られた薄膜試料の構造や物性を評価した。さらに、電位検出において位相変調方式を採用したケルビンプローブ原子間力顕微鏡（KPFM）を用いてC₃N₅薄膜の表面電位像観察を実施し、光照射に伴う電位変化の追跡を試みた。