[16a-D311-1~11] 2.1 Detection Devices

[16a-D311-11] Detection of alpha particles and Xe ions by GaN Single Strip Detectors

〇Hironori Okumura¹, Shoya Fujii², Kosuke Itabashi^3,4, Manabu Togawa^3,4, Masaya Miyahara^3,4, Tadaaki Isobe⁵, Jiro Nishinaga⁶ (1.Univ. of Tsukuba, 2.SOKENDAI, 3.KEK, 4.QUP, 5.RIKEN, 6.AIST)

Keywords:GAN, Single Strip Detectors, Radiation

窒化ガリウム(GaN)は、はじき出し損傷エネルギーが大きく、電子正孔対の生成確率が大きいことから、長寿命の放射線検出器用材料の一つに挙げられる。しかし、実際にGaN材料を用いた1次元検出の報告は寡少である。本研究では、GaN 縦型P-i-Nダイオード(PND)構造を用いてシングルスストリップ検出器(SSD)を作製し、Xe重粒子線およびα線を照射した。