[16a-D311-1~11] 2.1 検出器デバイス開発

[16a-D311-11] GaN一次元検出器を用いたα線および重粒子線の検出

〇奥村 宏典¹、藤井 翔也²、板橋 浩介^3,4、外川 学^3,4、宮原 正也^3,4、磯部 忠昭⁵、西永 慈郎⁶ (1.筑波大数理、2.総研大、3.高エネ研、4.QUP、5.理研、6.産総研)

キーワード：GaN、1次元検出器、放射線

窒化ガリウム(GaN)は、はじき出し損傷エネルギーが大きく、電子正孔対の生成確率が大きいことから、長寿命の放射線検出器用材料の一つに挙げられる。しかし、実際にGaN材料を用いた1次元検出の報告は寡少である。本研究では、GaN 縦型P-i-Nダイオード(PND)構造を用いてシングルスストリップ検出器(SSD)を作製し、Xe重粒子線およびα線を照射した。