The 70th JSAP Spring Meeting 2023

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Oral presentation

16 Amorphous and Microcrystalline Materials » 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

[16a-D505-1~11] 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

Thu. Mar 16, 2023 9:00 AM - 12:00 PM D505 (Building No. 11)

Nobuaki Terakado(Tohoku Univ.), Tsuyoshi Honma(Nagaoka Univ. of Tech.), Tetsuo Kishi(Tokyo Institute of Technology)

9:45 AM - 10:00 AM

[16a-D505-4] Low threshold room temperature stimulated emission originating from electron-hole plasmas in degenerate ZnO:Ga thin films

Aika Tashiro1, Yutaka Adachi2, Takashi Uchino1 (1.Kobe Univ., 2.NIMS)

Keywords:degenerate semiconductor, zinc oxide, stimulated emission

Mott密度のキャリア濃度を有するn型ドープ半導体では,フェルミ準位が伝導帯中の深い位置に存在し,多体効果に由来した特異な光学過程が予測される。そこで本研究では,高品位 Gaドープ縮退ZnO薄膜を作製し光学測定を行った。光吸収測定の結果,室温で吸収端付近に吸収増大が観測され,その強度は温度低下に伴い増大することが分かった。さらにPL測定より,非ドープZnOよりも低閾値でEHP由来の誘導放出発光を観測した。