13:30 〜 14:00
[16p-A404-1] 透過電子顕微鏡による微細構造解析の現状
キーワード:電子顕微鏡、構造解析
広義の透過電子顕微鏡法(TEM)は、微小領域を拡大観察する結像法、電子回折から構造解析を行う回折法、元素分析等を行う分光法などの要素を含んでおり、微細構造解析手法として広く用いられている。ここでは最近のTEMによる結像法や回折法の例として、走査透過電子顕微鏡法(STEM)による結晶構造観察や、4次元(4D)STEMによる微細構造解析の現状を紹介する。当日は非晶質の解析例なども紹介する。