The 70th JSAP Spring Meeting 2023

Presentation information

Poster presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.6 Probe Microscopy

[16p-PA10-1~11] 6.6 Probe Microscopy

Thu. Mar 16, 2023 4:00 PM - 6:00 PM PA10 (Poster)

4:00 PM - 6:00 PM

[16p-PA10-4] In situ Analysis on an interface between molten Ga and Cu-Ga Alloy by AFM

Hiroki Kataoka1, Naoya Suzuki1, Takashi Ichii1, Toru Utsunomiya1, Hiroyuki Sugimura1 (1.Kyoto Univ.)

Keywords:AFM

溶融金属と固体金属の界面では,異種金属材料接合が形成される.そのため,異種金属界面の分析は,異種金属材料接合を理解する上で重要である.固液界面の3次元分析手法の1つに原子間力顕微鏡(AFM)があり,当研究室ではqPlusセンサを使用し溶融金属中でのAFM分析を行ってきた.
本発表では,溶融Ga中でのCu-Ga界面のAFM分析結果について発表する.