The 70th JSAP Spring Meeting 2023

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Oral presentation

3 Optics and Photonics » 3.7 Optical measurement, instrumentation, and sensor (formerly 3.8)

[17a-A502-1~8] 3.7 Optical measurement, instrumentation, and sensor (formerly 3.8)

Fri. Mar 17, 2023 9:30 AM - 11:45 AM A502 (Building No. 6)

Tatsutoshi Shioda(Saitama Univ.), Takashi Kato(UEC)

11:15 AM - 11:30 AM

[17a-A502-7] High-contrast imaging for a meter with glare based on the polarization-probe polarization-imaging

〇(M1)Haruki Morita1, Moritsugu Sakamoto1,4, Kohei Noda1,4, Tomoyuki Sasaki1,4, Masayuki Tanaka2,4, Nobuhiro Kawatsuki3,4, Hiroshi Ono1,4 (1.Nagaoka Univ. of Tech, 2.OPT Gate Co.,LTD, 3.Univ. of Hyogo, 4.CREST, JST)

Keywords:polarization imaing, Stokes parameter, polarization grating

近年、画像を AI で処理することが増え、画像の2値化やエッジ検出のために、撮像画像のコントラストを向上させたいというニーズがある。このニーズに対し、我々の研究室で研究している幾何学位相回折素子(GPDOE)とカメラ用いた偏光探査型偏光撮像法によって、映り込みのある画像の高コントラスト化を試みた。結果として、計器カバーの映り込みを低減し、且つ計器のメモリや数字、指示針を高コントラスト化することに成功した。