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[17a-A502-7] 偏光探査型偏光撮像法における映り込みの有る計器の高コントラスト撮像
キーワード:偏光イメージング、ストークスパラメータ、偏光回折格子
近年、画像を AI で処理することが増え、画像の2値化やエッジ検出のために、撮像画像のコントラストを向上させたいというニーズがある。このニーズに対し、我々の研究室で研究している幾何学位相回折素子(GPDOE)とカメラ用いた偏光探査型偏光撮像法によって、映り込みのある画像の高コントラスト化を試みた。結果として、計器カバーの映り込みを低減し、且つ計器のメモリや数字、指示針を高コントラスト化することに成功した。