[17a-PA01-1~7] 7 ビーム応用（ポスター）

[17a-PA01-1] DAFS法による粉末結晶試料に対する3次元的局所構造解析法の検討

〇宇留賀 朋哉¹、金子 拓真¹ (1.高輝度セ)

キーワード：X線回折、X線分光

DAFS法は、結晶試料に対し、吸収端近傍の回折ピーク強度のエネルギー依存性を計測することにより、目的元素のサイト選択的な電子状態抽出などを可能とするX線分光手法である。本研究では、粉末結晶試料に対して、回折像の各方位角のDAFS強度が、入射X線に対し偏光依存性を有することを利用し、測定目的原子の周りの3次元的な配位構造に関する情報の抽出を試みている。研究の概要について報告する。