[17p-A201-1~15] 3.1 光学基礎・光学新領域（旧3.2「材料・機器光学」と統合）

[17p-A201-1] 非冗長配列スリットと時間光変調を利用した高速かつ信頼性の高い空間的コヒーレンス測定法

〇白井 智宏¹、Friberg Ari² (1.産総研、2.東フィンランド大)

キーワード：空間的コヒーレンス測定、デジタルマイクロミラーデバイス（DMD）、非冗長配列

これまでに筆者らは， DMD上に表示した複スリットを時間変調する空間的コヒーレンスの新しい測定原理を提案した．本研究では，当該原理の拡張として複スリットの代わりに非冗長配列スリットを利用することで，高速かつ背景光に不感な信頼性の高い空間的コヒーレンス測定が可能となった．具体的には，複数（6スリットの場合は15個）の異なる2点間の空間的コヒーレンス度を，1回の測定で正確に評価することができた．