[17p-A201-1~15] 3.1 光学基礎・光学新領域（旧3.2「材料・機器光学」と統合）

△ [17p-A201-14] 切って、置いて、測るだけ：金ナノメッシュによる超簡便SERS

北濱 康孝^1,2、合田 圭介^1,2,4,6,7、〇(M1)丸見 真智子¹、Pancorbo Pablo¹、瀬川 尋貴³、Xiao Ting-Hui^1,2,4、平松 光太郎¹、Yang William⁵ (1.東大理化　合田研、2.LucasLand、3.科警研、4.量研機構、5.BaySpec、6.武漢大、7.カリフォルニア大)

キーワード：SERS、金ナノメッシュ、その場測定

試料を非破壊でその場測定して混在する対象物質を同定するためには、表面増強ラマン分光法（SERS）が適している。しかし、測定するためには危険な試料であっても採取してSERS基板に滴下するという下準備の必要があった。今回、我々は柔軟で接着性がありハサミで任意の大きさに切ることができる金ナノメッシュSERS基板を、試料上に置くだけで、試料を採取することなしにその場測定できることを実証した。